X射線衍射法是一種利用單色X射線光束照射到一顆晶體或眾多隨機(jī)取向的微小晶體來測量樣品分子三維立體結(jié)構(gòu)或特征X射線衍射圖譜的檢測分析方法。
X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)參數(shù)分析,如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數(shù)測定(晶體結(jié)構(gòu)分析)、多晶X-射線衍射的指標(biāo)化以及晶粒尺寸和結(jié)晶度的測定等??傻販y定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),如:物相定性與定量分析,衍射譜的指標(biāo)化及點陣參數(shù)。
X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。
(1)高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。
(2)樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
(3)射線檢測器檢測衍射強(qiáng)度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
?。?)衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機(jī)系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。
應(yīng)用范圍:
對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說,X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析,大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析;晶體物質(zhì)晶粒大小的計算;晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。