X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)原理可用兩個(gè)“轉(zhuǎn)換”來概述

　　X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)成像結(jié)果可以實(shí)時(shí)呈現(xiàn)在顯示器上，研究人員可以直觀清楚的看到高清晰度的X光圖片，并根據(jù)研究?jī)?nèi)容對(duì)圖像進(jìn)行分析處理。該系統(tǒng)是一種更加便捷的檢測(cè)手段，該系統(tǒng)由脈沖式X射線機(jī)和高分辨率便攜式平板及圖像處理系統(tǒng)組成，全電池供電，及外部供.x射線膠片成像技術(shù)是利用膠片將透射被檢測(cè)物體從而攜帶了物體內(nèi)部信息的x射線記錄下來，通過顯影、定影等暗室處理后進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估的技術(shù)。
 

　　需要的設(shè)備主要包括：X射線源、膠片、顯影與定影試劑和烘干設(shè)備。膠片的顯影、定影等后處理程序和我們?nèi)粘Ｉ钪械呐恼找粯樱皇沁@里實(shí)現(xiàn)曝光的是X射線，反映的是物體內(nèi)部的信息。包括x射線管、探測(cè)器陣列、機(jī)械掃描系統(tǒng)、信號(hào)放大和數(shù)據(jù)采集處理單元、計(jì)算機(jī)圖像處理存儲(chǔ)傳輸系統(tǒng)、圖像顯示系統(tǒng)等。
 

　　X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)原理可用兩個(gè)“轉(zhuǎn)換”來概述:射線發(fā)生器中加速的電子撞擊陽極靶產(chǎn)生X射線，X射線穿透金屬材料后被圖像增強(qiáng)器所接收，圖像增強(qiáng)器把不可見的X射線檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為光學(xué)圖像，稱為“光電轉(zhuǎn)換”；用高清晰度電視攝像機(jī)攝取光學(xué)圖像，輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像，經(jīng)計(jì)算機(jī)處理后，還原在顯示器屏幕上顯示出材料內(nèi)部的缺陷性質(zhì)、大小、位置等信息，再根據(jù)圖像的灰度對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行缺陷等級(jí)評(píng)定，從而達(dá)到檢測(cè)的目的。
 

　　即使在一些發(fā)達(dá)的大城市地區(qū)，大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室都需要花費(fèi)數(shù)周的時(shí)間來分析樣品。射線穿過被檢測(cè)物體后攜帶了物體內(nèi)部的組成信息，在經(jīng)過一個(gè)準(zhǔn)直器后進(jìn)入由核探測(cè)器及電子學(xué)系統(tǒng)組成的轉(zhuǎn)換裝置中，轉(zhuǎn)換裝置輸出的信號(hào)大小和射入其中的射線強(qiáng)度成正向關(guān)系。隨后數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)將采集到的信號(hào)進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換和預(yù)處理并輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)和后處理。
 

　　X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)是我廠經(jīng)過多年潛心研發(fā)的科技成果，針對(duì)國(guó)內(nèi)用戶而量身定制的一套多軸檢測(cè)設(shè)備。系統(tǒng)主要由X射線探傷機(jī)、數(shù)字成像單元、計(jì)算機(jī)圖像處理系統(tǒng)、監(jiān)控系統(tǒng)、機(jī)械系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng)和防護(hù)及警示系統(tǒng)等七部分組成，涵蓋了光、機(jī)、電三大類技術(shù)領(lǐng)域，利用X射線與成像單元相配合，能夠?qū)崟r(shí)觀測(cè)到鑄件的檢測(cè)圖像，從而判定內(nèi)部是否存在缺陷及缺陷類型和等級(jí)，同時(shí)通過計(jì)算機(jī)圖像處理系統(tǒng)完成對(duì)圖像的存儲(chǔ)和處理，以提高圖像的清晰度，保證評(píng)定的準(zhǔn)確性。